封装 | 共进微封装能力之“切割工艺”

2024-01-22
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共进微封装能力



导读

切割工艺在芯片封装中扮演着不可或缺的重要角色。通过使用精确而稳定的切割工艺,能够确保芯片封装的精度和稳定性,最大程度地释放芯片的性能潜力。同时,这也有助于提高生产效率并降低成本。共进微电子封装产线引入了最先进的切割设备和技术方案,确保为客户提供高品质的封装产品,并通过不断追求技术创新和优化,为客户提供最佳的解决方案。


Blade Saw

激光开槽

激光隐切

激光全切

Blade Saw

Gongjin Microelectronics

共进微电子的Blade saw使用的是Disco DFD6362晶圆切割机,机台主要是用于8/12寸常规晶圆切割。



作业原理:

切割时由主轴带动刀片高速旋转获得高刚性,从而去除材料实现切割。由于刀片具有一定的厚度,因此需要确保划片线宽较大。金刚石划片刀具能够达到的最小切割线宽为25~35um。对于不同材质和厚度的晶圆,需要更换不同的刀具。在旋转砂轮式划片过程中,我们需要使用去离子水对刀片进行冷却,并将切割后产生的硅渣碎屑带走。


制程能力

对于硅晶圆产品的切割,正崩尺寸可小于10um,表面不会有指向有效线路的crack;背崩宽度可小于10um,背面崩碎深度可小于1/5晶圆厚度。机台清洗采用二流体清洗方式,可以保证产品清洗完成后无水气杂质残留。



激光开槽

Gongjin Microelectronics


共进微电子的激光开槽使用的是Disco DFL7161,主要用于Low-k材料的晶圆,改善易脆材料在刀切造成的切割不良,从而提高切割良率。



作业原理

对于Low-K材料,普通的金刚石刀轮难以进行切割。因此,在切割之前需要使用激光技术去除硅晶圆表面的Low-K层,然后再使用刀轮切割硅等衬底材料。激光开槽技术通过光路系统将光斑整形成特定的形状,使激光能够聚焦于材料表面,形成特定的槽型。利用超快激光的极高峰值功率,可以瞬间将Low-K层汽化,减少了热影响区并且没有中间过程。这种方法大大减少了热对材料的影响。



制程能力

最小可支持35um切割道,激光束宽度宽度10um,可保证加工后切割槽宽度和深度均匀,晶圆表面无硅粉,油污沾污,无水汽残留。


激光隐切

Gongjin Microelectronics


共进微电子的激光隐切使用的是DiscoDFL7341,主要用于具有悬膜、悬臂梁、微针、微弹簧等敏感结构类型的芯片。



作业原理

其原理是将波长约1300nm左右的红外线激光聚焦在硅片内部以产生改质层,再借由扩展胶膜等方法将晶圆分成晶粒,以达到低损伤、高精度、高品质切割。该工艺从工件内部改质,因此可以抑制加工屑的产生;切割过程无振动冲击,且采用干式加工工艺,无需清洗;切割道宽度要求低,有助于减小芯片间隔,适用于具有悬膜、悬臂梁、微针、微弹簧等敏感结构类型的芯片。


制程能力

切割道大于30um,支持硅片厚度范围0.1mm-0.7mm,正崩尺寸可小于10um。


激光全切

Gongjin Microelectronics


共进微电子具备玻璃基晶圆的激光切割能力。



作业原理

主要原理是利用激光的高峰值功率、高峰值功率密度,在玻璃内部聚焦,瞬间气化该区域材料产生一个气化带,迅速向上下两表面扩散形成裂孔,产生由无数孔点组成切割截面,再通过外部应力断裂实现切割。



制程能力

可支持10um的超窄切割道产品 ,支持玻璃厚度最大为5mm,切割后崩边尺寸可小于10um。




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