产品介绍
普赛斯igbt静态性能测试设备,集多种测量和分析功能一体,可以精准测量IGBT功率半导体器件的静态参数,具有高电压和大电流特性、uQ级精确测量、nA级电流测量能力等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容,如输入电容、输出电容、反向传输电容等。详询18140663476
产品特点
1、高电压、大电流
具有高电压测量/输出能力，电压高达3500V（蕞大可扩展至10kV）
具有大电流测量/输出能力，电流高达6000A（多模块并联）
2、高精度测量
nA级漏电流，μΩ级导通电阻
0.1％精度测量
四线制测试
3、模块化配置
可根据实际测试需要灵活配置多种测量单元
系统预留升级空间，后期可添加或升级测量单元
4、测试效率高
内置专用开关矩阵，根据测试项目自动切换电路与测量单元
支持国标全指标的一键测试
5、软件功能丰富
上位机自带器件标准参数测试项目模板，可直接调取使用
支持曲线绘制
自动保存测试数据，并支持EXCEL格式导出
开放的标准SCPI指令集，可与第三方系统集成
6、扩展性好
支持常温及低温、高温测试
可灵活定制各种夹具
可与探针台，温箱等第三方设备联动使用
硬件特色与性能优势
1、大电流输出响应快，无过冲
采用自主开发的高性能脉冲式大电流源、高压源，输出建立过程响应快、无过冲。测试过程中，大电流典型上升时间为15μs， 脉宽在50~500μs之间可调。采用脉冲大电流的测试方式，可有 效降低器件因自身发热带来的误差。
2、高压测试支持恒压限流，恒流限压模式
采用自主开发的高性能高压源，输出建立与断开响应快、无过冲。在击穿电压测试中，可设定电流限制或者电压限值，防止器件因过压或过流导致损坏。
产品替代
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