武汉普赛斯仪表 普赛斯CTMS-1000A 半导体测试设备

普赛斯以自主研发为导向，深耕半导体测试领域，在I-V测试上积累了丰富的经验，先后推出了直流源表，脉冲源表、脉冲恒流源、脉冲恒压源、功率器件静态测试系统、大功率激光器老化测试系统等测试设备，广泛应用于高校研究所、实验室，新能源，光伏，风电，轨交，变频器等场景。普赛斯全新升级S系列数字源表更大直流,更高精度,科研实验必备源表,标准的SCPI指令集,上位机软件功能丰富,半导体测试领域的经典产品!

传感器性能测试台霍尔延时响应测试特点和优势：

超快300A/us上升沿；

可集成数字万用表、示波器；

可集成温箱，动静态参数一体化测试；

可定制各种穿心式、连接式夹具；

可测量开环/闭环霍尔电流传感器、罗氏线圈、磁通门电流传感器；

单台设备最大输出1000A；

0.1%精度；

产品应用

开环/闭环霍尔电流传感器、罗氏线圈电流传感器、磁通门；

武汉普赛斯仪表传感器性能测试台霍尔延时响应测试集多种测量和分析功能一体，可精准测量各种电流传感器（霍尔电流传感器、罗氏线圈、皮尔森线圈等）的静态与动态参数，单台大电流源电流可高达1000A。该系统可测量不同电流传感器的静态与动态参数，具有大电流特性、极快的达到300A/us级上升沿、可测量KHz级带宽等特点，能实现零点漂移、线性度、温度漂移曲线、带宽、响应时间等参数的自动化测量。