光源:LED,红色 |
准许证/证书:CE cSAUS |
工作温度范围:-10 到 50 °C |
工作间距(扫描范围):20 mm |
更多的功能/选项:AI-1000/1000C型传感器头 |
评估元件(内部/外部):外部 |
光源:LED,红色 |
准许证/证书:CE cSAUS |
工作温度范围:-10 到 50 °C |
工作间距(扫描范围):10 mm |
更多的功能/选项:AI-1000/1000C型传感器头 |
评估元件(内部/外部):外部 |
光源:LED,红色 |
准许证/证书:CE cSAUS |
工作温度范围:-10 到 50 °C |
工作间距(扫描范围):50 mm |
更多的功能/选项:AI-1000/1000C型传感器头 |
评估元件(内部/外部):外部 |
防护等级:IP 67 |
光源:LED,红色 |
准许证/证书:CE cSAUS |
工作温度范围:-10 到 50 °C |
工作间距(扫描范围):100 mm |
更多的功能/选项:AI-1000/1000C型传感器头 |
评估元件(内部/外部):外部 |
防护等级:IP 67 |
光源:LED,红色 |
准许证/证书:CE cSAUS |
工作温度范围:-10 到 50 °C |
工作间距(扫描范围):160 mm |
更多的功能/选项:AI-1000/1000C型传感器头 |
评估元件(内部/外部):外部 |
防护等级:IP 67 |
光源:LED,红色 |
典型应用:区分芯片装置的正面和背面 检查电路板组件组件 检测工件的不完全加工 |
准许证/证书:CE cSAUS |
响应时间最大值:3 到 100 ms |
外壳材料:锌压铸 PBT |
工作温度范围:-10 到 50 °C |
接口:IO-Link |
数字输出:PNP/NPN |
更多的功能/选项:开机/关机延迟 |
检测模式:存在控制 差分测试 进纸模式 |
评估元件(内部/外部):评估单元 外部 |
防护等级:IP 67 |
光源:LED,红色 |
准许证/证书:CE cSAUS |
响应时间最大值:3 到 100 ms |
工作温度范围:-10 到 50 °C |
接口:IO-Link |
数字输出:PNP/NPN |
更多的功能/选项:开机/关机延迟 |
检测模式:存在控制 差分测试 进纸模式 |
评估元件(内部/外部):评估单元 外部 |
防护等级:IP 67 |
光源:LED,红色 |
准许证/证书:CE cSAUS |
响应时间最大值:3 到 100 ms |
工作温度范围:-10 到 50 °C |
工作间距(扫描范围):100 mm |
接口:IO-Link |
数字输出:PNP/NPN |
更多的功能/选项:开机/关机延迟 |
检测模式:存在控制 差分测试 进纸模式 |
评估元件(内部/外部):评估单元 内部 |
防护等级:IP 67 |
光源:LED,红色 |
准许证/证书:CE cSAUS |
响应时间最大值:3 到 100 ms |
工作温度范围:-10 到 50 °C |
工作间距(扫描范围):160 mm |
接口:IO-Link |
数字输出:PNP/NPN |
更多的功能/选项:开机/关机延迟 |
检测模式:存在控制 差分测试 进纸模式 |
评估元件(内部/外部):评估单元 内部 |
防护等级:IP 67 |
光源:LED,红色 |
准许证/证书:CE cSAUS |
响应时间最大值:3 到 100 ms |
工作温度范围:-10 到 50 °C |
工作间距(扫描范围):50 mm |
接口:IO-Link |
数字输出:PNP/NPN |
更多的功能/选项:开机/关机延迟 |
检测模式:存在控制 差分测试 进纸模式 |
评估元件(内部/外部):评估单元 内部 |
防护等级:IP 67 |
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