Enlitech 胜焱电子 SG-A _ CMOS 图像传感器测试仪 视觉传感器

特色

• 无损光学检测。

• 高度准直梁角 / 高准直波束角 < 0.05 度, < 0.1 度, < 0.5 度, < 1 度, < 3 度 (不同型号)

• 高均匀光束点：≥ 99%。

• 光的不稳定性 ≤1%。

• 高动态范围测试能力：80dB ~ 140dB（不同型号）。

• 可以测试 CMOS 图像传感器参数。量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流 / 噪声、信噪比、饱和容量、线性误差（LE）、DCNU（暗电流不均匀性）、PRNU（光响应不均匀性）、CRA（首席射线角）。

• 全光谱波长范围：300nm – 1100nm 或 350nm ~ 1000nm（PTC）。

• 波长可扩展至 1700 纳米以上。

• DUT 封装：CIS 模块，PCB 板级，CIS 摄像头，有 / 无微透镜。

• SG-A 和 DUT 之间的 “直接 “或 “握手 “通信协议。

• 定制的测试夹具和平台（手动或自动，最多 6 轴）。

• 强大的分析软件 ARGUS®。

• 应用：指纹识别（CIS + 镜头，CIS + 准直器，TFT 阵列传感器）CIS 的微透镜设计，晶圆级光学检测，CIS DSP 芯片算法开发，Si TFT 传感器面板，飞行时间相机传感器，接近传感器（量子效率，灵敏度，线性度，SNR 等），d-ToF 传感器，i-ToF 传感器，多光谱传感器，环境光传感器（ALS），指纹显示（FoD）传感器。

系统设计

规格

　　SG-A 型 CMOS 图像传感器测试仪的功能非常强大，因此相关的规格和配件也非常齐全。请与我们联系，以了解更多细节和选择咨询, 以下是主要的能力规格：

– 全光谱的波长范围：300 – 1100 纳米或 350 – 1000 纳米（PTC）。
– 波长范围可以扩展到 1700 纳米或更高。
– 单一波长源。470 纳米, 530 纳米, 630 纳米, 940 纳米（±5纳米）或自定义。
– 动态范围：80dB、100dB 或 140dB。
– 测试夹具：DUT ≤ 100mm x 100mm x 30mm (高度)[基本型] 或订制。
– 平台：无，手动 3 轴或 6 轴（手动 + 自动）平台（可订制)

应用范围

• 指纹识别（CIS + 镜头，CIS + 准直器，TFT-阵列传感器)

• CIS 的微透镜设计，晶圆级光学检查

• CIS DSP 芯片的算法开发

• Si TFT 传感器面板

• 飞行时间相机传感器

• 近距离感应器 (量子效率、灵敏度、线性度、SNR 等)

• d-ToF 传感器，i-ToF 传感器

• 多光谱传感器

• 环境光传感器 (ALS)

• 指纹显示（FoD）传感器

安装成果展示

SG-A CMOS图像传感器测试仪