Enlitech 胜焱电子 SG-A _ CMOS 图像传感器测试仪 视觉传感器

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特色

  • 无损光学检测。

  • 高度准直梁角 / 高准直波束角 < 0.05 度, < 0.1 度, < 0.5 度, < 1 度, < 3 度 (不同型号)

  • 高均匀光束点:≥ 99%。

  • 光的不稳定性 ≤1%。

  • 高动态范围测试能力:80dB ~ 140dB(不同型号)。

  • 可以测试 CMOS 图像传感器参数。量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流 / 噪声、信噪比、饱和容量、线性误差(LE)、DCNU(暗电流不均匀性)、PRNU(光响应不均匀性)、CRA(首席射线角)。

  • 全光谱波长范围:300nm – 1100nm 或 350nm ~ 1000nm(PTC)。

  • 波长可扩展至 1700 纳米以上。

  • DUT 封装:CIS 模块,PCB 板级,CIS 摄像头,有 / 无微透镜。

  • SG-A 和 DUT 之间的 “直接 “或 “握手 “通信协议。

  • 定制的测试夹具和平台(手动或自动,最多 6 轴)。

  • 强大的分析软件 ARGUS®。

  • 应用:指纹识别(CIS + 镜头,CIS + 准直器,TFT 阵列传感器)CIS 的微透镜设计,晶圆级光学检测,CIS DSP 芯片算法开发,Si TFT 传感器面板,飞行时间相机传感器,接近传感器(量子效率,灵敏度,线性度,SNR 等),d-ToF 传感器,i-ToF 传感器,多光谱传感器,环境光传感器(ALS),指纹显示(FoD)传感器。


系统设计

规格

  SG-A 型 CMOS 图像传感器测试仪的功能非常强大,因此相关的规格和配件也非常齐全。请与我们联系,以了解更多细节和选择咨询, 以下是主要的能力规格:

– 全光谱的波长范围:300 – 1100 纳米或 350 – 1000 纳米(PTC)。
– 波长范围可以扩展到 1700 纳米或更高。
– 单一波长源。470 纳米, 530 纳米, 630 纳米, 940 纳米(±5纳米)或自定义。
– 动态范围:80dB、100dB 或 140dB。
– 测试夹具:DUT ≤ 100mm x 100mm x 30mm (高度)[基本型] 或订制。
– 平台:无,手动 3 轴或 6 轴(手动 + 自动)平台(可订制)


应用范围

  • 指纹识别(CIS + 镜头,CIS + 准直器,TFT-阵列传感器)

  • CIS 的微透镜设计,晶圆级光学检查

  • CIS DSP 芯片的算法开发

  • Si TFT 传感器面板

  • 飞行时间相机传感器

  • 近距离感应器 (量子效率、灵敏度、线性度、SNR 等)

  • d-ToF 传感器,i-ToF 传感器

  • 多光谱传感器

  • 环境光传感器 (ALS)

  • 指纹显示(FoD)传感器


安装成果展示


SG-A CMOS图像传感器测试仪



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