产品介绍
特色
SPD2200具备全光谱性能测试包含：
全光谱光谱响应（SR, Spectral Responsivity）
全光谱量子效率（EQE, External Quantum Efficiency）
全光谱光子探测率（PDP, Photon Detection Probability）
暗计数DCR （Dark Count Rate）
崩溃电压BDV （Break-Down Voltage）
SPD2200亦能够测试SPD的单光子辨析特性分析，包含：
Jitter
Afterpulsing probability
Diffusion tail
SNR
SPD2200整合了所有先进光学与电学系统，搭配光焱科技多年光感测器测试与分析的经验，提供完整与便利的软体控制介面与分析功能。 SPD2200可帮助您节省系统搭设的时间成本，并降低测试结果的不确定性。加快产品的开发周期，提升产品的竞争力。
实证
SPAD的暗计数与偏压关系图
SPAD暗计数与崩溃电压
在不同电压下SPAD光子探测效率的PDE光谱
SPAD的Jitter测量
产品替代
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