产品介绍
以色列Duma公司 BeamOn X高分辨率光束质量分析仪
Duma Optronics 公司于1989年成立于以色列,是一家专业从事激光光束自动化测量系统研发和生产的公司,其生产的光束质量分析仪产品类型丰富,功能全面。
BeamOn X高分辨率光束质量分析仪,在保持价格优势的前提下,提供3096 x 2080的高分辨率,小可测量30um直径光束,能对连续光和脉冲光的形状,位置,功率等光束特性进行全方位测量。
产品特点:
·3096 x 2080的高分辨率
·宽光谱范围:350nm ~ 1310nm
·连续或脉冲光束测量均可适用
·小光束直径30um
·高性价比优势
产品应用:
·宽光谱范围光束轮廓分析
·实时测量光束尺寸和高斯拟合(或平顶光束)
·实时绘制光束的二维/三维视图
·激光器的光束质量分析
·激光束分析:轮廓、光束尺寸、位置、功率
·多光束质量分析
型号参数:
型号 | BeamOn X |
光谱范围 | 350-1310 nm |
像元尺寸 | 2.4 x 2.4 (um) |
靶面尺寸 | 7.4 x 5 mm |
分辨率 | 3096 x 2080 |
帧率 | 50 fps – 450 fps (8 bit ROI) |
动态范围 | 60db |
光束宽度准确性 | +/- 2% |
位深 | 10/14 bit |
灵敏度 | ~0.5 nW/cm² @ 633 nm~15,000 nW/cm²@ 1310 nm (15 μW/cm²) |
饱和光功率 | 1 W/cm2 (无滤光片) |
损伤阈值 | 50W/ cm²(含滤光片) |
PC 接口 | USB 3.0, Windows 7/8/10 (32 & 64 bit) |
衰减片 | 可选滤光轮选项提供NG4,NG9,NG10 3种衰减片 |
BeamOn X高分辨率光束质量分析仪 激光调制与测量技术参数
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型号 | BeamOn X | |
光谱范围 | 350-1310 nm | |
像元尺寸 | 2.4 x 2.4 (um) | |
靶面尺寸 | 7.4 x 5 mm | |
分辨率 | 3096 x 2080 | |
帧率 | 50-450Hz | |
动态范围 | 60db |
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