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英国真尚有_微米级光栅尺AE0x变形检测

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产品介绍



英国真尚有_光栅尺 | 微米级光栅尺 | AE0X

高精度位移检测



AE0X微米级光栅尺设计用于测量和检查工程物体的位移、尺寸、跳动、表面轮廓和变形。

主要特点:
◇ 0.1 µm 分辨率
◇ 最高±2 µm 精度
◇ 测量范围从 3 到 55 mm
◇ 可应用范围广,对被测物本身无限制(低反射率、镜面、透明……都不影响)
◇ 绝对测量的创新技术
◇ 增量编码器信号的仿真

AE0X微米级光栅尺特点:

(1)、0.1 µm 分辨率(2)、最高±2 µm 精度(3)、测量范围从 3 到 55 mm(4)、可应用范围广,对被测物本身无限制(低反射率、镜面、透明……都不影响)(5)、绝对测量的创新技术(6)、增量编码器信号的仿真



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