Micro-Epsilon 米铱 ThicknessCONTROL MTS 8202.T 光学千分尺和激光千分尺

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微Epsilon为金属工业提供创新的测量和检测系统。最新技术用于厚度、剖面和表面测量。性能和质量,以及产品和服务的可靠性,使微Epsilon成为金属工业光学厚度测量检测系统的领先供应商之一。世界上13个国家在铣削生产线和加工生产线的大量成功安装说明了这一点。厚度测量系统作为一个C形框架,带有点激光厚度控制MTS 8202.T,MTS 8202.T配有激光三角测量传感器,确保材料独立测量。在生产过程中,两个传感器的激光束均采用专门开发的光电工具进行优化调整,以提供最高的精度。该系统测量速度快,是监测高动态过程的理想系统。自动在线校准可确保测量不受温度影响

特性

  • 创新的激光线-非接触式厚度测量,多达1280个离散测量点
  • 用横向千分尺分辨率测量窄带边缘,结合大测量范围
  • 高动态测量-128000个测量点/秒,即使对于结构材料,如按钮板和网纹板,也能提供高精度
  • 带钢倾斜的识别和补偿-特别适用于纵向剪切剪
  • 不需要合金补偿-真正的几何,材料独立的厚度测量
  • 具有成本效益的服务-生命周期管理-不使用同位素或x射线的创新测量方法,从而降低相应的成本
  • ±4µm的线性度
  • 测量范围可达20mm
  • 浸泡深度50mm至1000mm
  • 特殊尺寸按要求
  • 测量速率高达10khz
  • 创新激光线-非接触厚度测量,最多1280个离散测量点
  • 无需合金补偿-实际几何、材料独立厚度测量
  • Linearity from ± 4µm
  • 根据要求提供特殊尺寸

ThicknessCONTROL MTS 8202.T 光学千分尺和激光千分尺技术参数

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性 能
测量能力 SPC Capability
特 性
量程 0.7874 inch (20 mm)
测量技术 Optical; Non-contact
测量刻度 / 单位 English; Metric
物 理
镜头类型 Single-piece head
安装/加载选项 Automatic or Inline
更多技术信息
激光 / 可见度类型 Laser Class II
更多规格
产品类别 Optical Micrometers and Laser Micrometers
精度 4 µm

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