Micro-Epsilon 米铱 ThicknessCONTROL MTS 7202.T 光学千分尺和激光千分尺

分享
  • 后询价或查看价格

  • ThicknessCONTROL MTS 7202.T

  • 光学千分尺和激光千分尺

  • Micro-Epsilon 米铱

  • 请咨询供应商

  • Micro-Epsilon 米铱

联系销售
专家支持

微Epsilon为金属工业提供创新的测量和检测系统。最新技术用于厚度、剖面和表面测量。性能和质量,以及产品和服务的可靠性,使微Epsilon成为金属工业光学厚度测量检测系统的领先供应商之一。世界上13个国家在铣削生产线和加工生产线的大量成功安装说明了这一点。厚度测量系统作为一个C形框架,带有点激光厚度控制MTS 7202.T,MTS 7202.T配备有光电传感器,点状激光束通过一个特殊的圆柱透镜被加宽成一条小线。接收到的反射光使用一种特殊的软件算法进行平均。MTS 7202.T有两种不同的性能等级,均基于具有多种测量范围和测量宽度的激光三角测量技术。两个传感器的激光束都是使用专门开发的,提供最高精度的光电工具。该系统测量速度快,是监测高动态过程的理想系统。自动在线校准可确保测量不受温度影响

特性

  • 创新激光线-非接触厚度测量,最多1280个离散测量点
  • 用横向千分尺的分辨率测量窄条的边缘,并结合大的测量范围
  • 高动态测量-128000个测量点/秒,即使对于结构材料,如按钮板和网纹板,也能提供高精度
  • 识别和补偿带钢倾斜-特别适用于纵切剪切机
  • 不需要合金补偿-真正的几何,材料独立的厚度测量
  • 经济高效的服务生命周期管理—创新的测量方法,无需同位素或x射线,从而降低相应成本
  • Accuracy from ±1.2µm
  • 测量范围达50毫米
  • 浸入深度达500mm
  • 特殊尺寸按要求
  • 测量速率高达49kHz
  • 高度动态测量- 128,000个测点/秒,即使对于结构材料,如纽扣板和检查板,也能提供高精度测量
  • 经济高效的服务生命周期管理—创新的测量方法,无需同位素或X射线,从而降低相应成本
  • 测量范围可达50毫米
  • 测量速率可达49khz

ThicknessCONTROL MTS 7202.T 光学千分尺和激光千分尺技术参数

点击查看 0 个替代产品
规格项 参数值 勾选搜索替代
性 能
测量能力 SPC Capability
特 性
量程 1.97 inch (50 mm)
测量技术 Optical; Non-contact
测量刻度 / 单位 English; Metric
物 理
镜头类型 Single-piece head
安装/加载选项 Automatic or Inline
更多技术信息
激光 / 可见度类型 Laser Class II
更多规格
精度 1.2 µm
产品类别 Optical Micrometers and Laser Micrometers

产品替代

找到 个替代产品

位移传感器交流圈

约14圈友等你加入

    加载中···

    专家支持

    0 / 300

    选择图片

    确定提交

    提交成功

    系统自动将您的问题推送给专家解答

    查看专家解答
    请扫码进入传感圈小程序

    如何查看专家解答您的问题?

    1
    2
    3
    4