Pratt & Whitney Measurement Systems, Inc. LabMaster® : Model LMS 200 光学千分尺和激光千分尺

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我们的最高精度和自动化垂直测量仪器可以测量长度和厚度,只需按下一个按钮。我们独有的数字干涉仪通过比较测量探头的位置与HeNe激光光源的波长来测量样品的尺寸,有效地将波长与被测零件耦合。我们的专利激光路径与测量轴一致,以消除阿贝偏移误差。,Labmaster标准是除了测量块之外还有更多用途的最终测量块比较器,可以用作高精度高度测量仪。Labmaster标准也是测量薄膜、网格、磁带或磁盘基底以及金属箔等软材料厚度的首选仪器。此外,球的制造业在很大程度上依赖于Labmaster标准,借助于为这种应用而专门设计的几个铁砧,可以快速准确地测量球。

特性

  • 球/球
  • 磁带/磁盘基板
  • 光学组件
  • 聚乙烯薄膜
  • 计块
  • 涂层厚度标准
  • 插销量规
  • 螺纹钢丝
  • 膜厚度
  • 块规栈
  • 筛网厚度
  • 纺织品
  • 精密零件
  • 刚性设计-最大的重复性和再现性
  • 电动探针-提高系统稳定性并消除操作员的影响
  • 数字激光干涉仪-保证最大的分辨率,可追溯性,和性能
  • 两个仪器在一起-一个直读仪(厚度/高度规)和一个1-1量规块比较器
  • 两步校准-先进的节省时间功能只允许校准30秒
  • 自动循环-增加测量吞吐率时,测量标准规组
  • GageCal® PC control software - Microsoft® Windows based software reduces data entry, eliminates transcription errors, and speeds up measurements. Built-in gage tolerancing for many applications including balls, pins, plugs, blocks, threads, etc.
  • 灵活的铁砧夹具-确保系统的完整性,并适应各种测量应用
  • 磁带/磁盘基片
  • 塞规和销规
  • 电动探针-提高系统稳定性,消除操作人员的影响

LabMaster® : Model LMS 200 光学千分尺和激光千分尺技术参数

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性 能
测量能力 SPC Capability
最小分辨率 1.00E-7 inch (2.54E-6 mm)
重复性 1.6 inches
特 性
量程 0.0 to 8 inch (0.0 to 203 mm)
测量技术 Optical
测量刻度 / 单位 English; Metric
连 接 & 显 示
显示 Digital Display
物 理
镜头类型 Single-piece head
安装/加载选项 Benchtop or Floor
更多技术信息
激光 / 可见度类型 Visible Laser Light (680nM)
更多规格
精度 1.6 inches
产品类别 Optical Micrometers and Laser Micrometers

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