Pratt & Whitney Measurement Systems, Inc. LabMaster® : Model LMS 200 光学千分尺和激光千分尺

我们的最高精度和自动化垂直测量仪器可以测量长度和厚度，只需按下一个按钮。我们独有的数字干涉仪通过比较测量探头的位置与HeNe激光光源的波长来测量样品的尺寸，有效地将波长与被测零件耦合。我们的专利激光路径与测量轴一致，以消除阿贝偏移误差。，Labmaster标准是除了测量块之外还有更多用途的最终测量块比较器，可以用作高精度高度测量仪。Labmaster标准也是测量薄膜、网格、磁带或磁盘基底以及金属箔等软材料厚度的首选仪器。此外，球的制造业在很大程度上依赖于Labmaster标准，借助于为这种应用而专门设计的几个铁砧，可以快速准确地测量球。

特性

• 球/球
• 磁带/磁盘基板
• 光学组件
• 聚乙烯薄膜
• 计块
• 涂层厚度标准
• 插销量规
• 螺纹钢丝
• 膜厚度
• 块规栈
• 筛网厚度
• 纺织品
• 精密零件
• 刚性设计-最大的重复性和再现性
• 电动探针-提高系统稳定性并消除操作员的影响
• 数字激光干涉仪-保证最大的分辨率，可追溯性，和性能
• 两个仪器在一起-一个直读仪(厚度/高度规)和一个1-1量规块比较器
• 两步校准-先进的节省时间功能只允许校准30秒
• 自动循环-增加测量吞吐率时，测量标准规组
• GageCal® PC control software - Microsoft® Windows based software reduces data entry, eliminates transcription errors, and speeds up measurements. Built-in gage tolerancing for many applications including balls, pins, plugs, blocks, threads, etc.
• 灵活的铁砧夹具-确保系统的完整性，并适应各种测量应用
• 磁带/磁盘基片
• 塞规和销规
• 电动探针-提高系统稳定性，消除操作人员的影响