Pratt & Whitney Measurement Systems, Inc. Labmaster Universal : Model 175 光学千分尺和激光千分尺

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仪器不确定度为200万分之一英寸(50纳米),Labmaster Universal-型号175适用于几乎所有的内部(ID)、外部(OD)和同侧尺寸(SD*)测量应用。这种基于激光的通用长度测量系统(ULM)是普惠公司为计量校准实验室开发的,需要精确测量长度、外径、内径、中径、铅、大/小直径、锥度、线性位移和厚度,零阿贝偏移设计,大测量表与中心位置,高度,俯仰和偏航控制。由计算机控制的精密气浮轴承滑块和测量手指,通过保持恒定的力,消除了传统测量方法中常见的受操作者影响的误差。ULM能够测量量块、端部标准、平环、螺纹环和塞子、API量规、销和塞规、锥形塞、圆柱定位规、千分尺、指示器、LVDTs、卡尺和卡规,仪器不确定度到百万分之二英寸(0.05微米)。它的测量范围从0.020英寸(0.5毫米)到14英寸(356毫米),几乎适用于所有ID和OD仪表校准应用。ULM包括普惠公司的GageCal软件,该软件可自动输入环、塞、销、球、螺纹(计算节距/大径)的公差以及超出公差条件的标记,Labmaster通用175型还可以根据您的轴承要求进行配置,以测量广泛的抗摩擦滚柱轴承(BM175型;轴承测量仪器)。五种基本类型的抗摩擦轴承可以很容易地在ULM上测量。它们包括:圆锥滚子轴承、滚针轴承、滚珠轴承、球面滚子轴承和圆柱滚子轴承。测量特性包括:内径、外径、外滚道直径、内滚道直径、径向内游隙(径向内游隙)和轴向内游隙(轴向内游隙)。其他专业测量应用包括:齿轮、轴、光学元件、薄膜厚度、汽车零件、航空航天零件(包括飞机发动机零件)和您的精密部件都可以在ULM上测量。与尺寸相关的几何测量特性包括:位置公差(在轴上)、平行度、垂直度,倾斜度,总跳动(通过/失败)。

Labmaster Universal : Model 175 光学千分尺和激光千分尺技术参数

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性 能
测量能力 Diameter
最小分辨率 1.00E-7 inch (2.54E-6 mm)
重复性 1.6 inches
特 性
量程 0.0200 to 14 inch (0.5080 to 356 mm)
测量技术 Optical; Non-contact
测量刻度 / 单位 English; Metric
连 接 & 显 示
显示 Digital Display
物 理
镜头类型 Single-piece head
安装/加载选项 Benchtop or Floor
更多技术信息
激光 / 可见度类型 Visible Laser Light (680nM)
更多规格
精度 2 Micro inches
产品类别 Optical Micrometers and Laser Micrometers

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