Pratt & Whitney Measurement Systems, Inc. Laseruler® : Model VMS 200 光学千分尺和激光千分尺
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Laseruler® : Model VMS 200
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Pratt & Whitney Measurement Systems, Inc.
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Pratt & Whitney Measurement Systems, Inc.
产品介绍
对于垂直测量，你的解决方案是激光干涉仪，它是基于非常高的精度。测量高度和厚度精度的电影、零件、量规和完整的信心。我们独家数字干涉仪测量样本的维数进行比较测量探头位置氦氖(氦氖激光的波长光源,有效地耦合光的波长测量的一部分。我们的专利激光路径与测量轴线是一致的，以消除阿贝偏移误差。
特性
- 膜厚度
- 光学组件
- 量块
- 球/球
- 滚珠轴承
- 涂层厚度
- 涂层厚度标准
- 插头-销式压力表
- 螺纹连接
- 航空航天零件
- 汽车零部件
- 医疗器械
- 严格的设计-最大的重复性和再现性
- 电动探针-提高系统稳定性并消除操作员的影响
- 数字激光干涉仪-保证最大的分辨率，可追溯性，和性能
- 两步校准-高级省时功能只需30秒校准
- 自动循环-增加测量吞吐率时，测量标准规组
- 灵活的砧固定-确保系统的完整性和适应各种测量应用
- 数字激光干涉仪-保证最大的分辨率，可追溯性和性能
- 两步校准-先进的省时功能允许在30秒内校准
Laseruler® : Model VMS 200 光学千分尺和激光千分尺技术参数
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| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 性 能 | ||
| 测量能力 | SPC Capability | |
| 最小分辨率 | 1.00E-7 inch (2.54E-6 mm) | |
| 重复性 | 1.5 inches | |
| 特 性 | ||
| 量程 | 0.0 to 8 inch (0.0 to 203 mm) | |
| 测量技术 | LED or Optical Micrometer | |
| 输出类型 | Serial | |
| 测量刻度 / 单位 | English; Metric | |
| 连 接 & 显 示 | ||
| 显示 | Digital Display | |
| 物 理 | ||
| 镜头类型 | Single-piece head | |
| 安装/加载选项 | Benchtop or Floor | |
| 更多技术信息 | ||
| 激光 / 可见度类型 | Visible Laser Light (680nM) | |
| 更多规格 | ||
| 精度 | 1.5 Micro inch | |
| 产品类别 | Optical Micrometers and Laser Micrometers |
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