泰克DPO73304DX 33G示波器DPO73304DX 示波器

33G示波器DPO73304DX Tektronix DPO73304DX DPO73304DX示波器

33G示波器DPO73304DX产品介绍                    姚：180---2536---3925

美国泰克MSO / DPO70000 混合信号示波器特点

标准支持，包括 I2C、SPI、RS-232、FlexRay、MIPI、DisplayPort、HDMI、PCIe Gen3/Gen4、SATA/SAS、USB3.1、Type-C、10/100BaseT 至 10G/100G 以太网

功能强大的调试工具可迅速发现/解决设计挑战

光测量，例如消光比 (ER)、平均光功率 (AOP)、光调制幅度 (OMA)、光高值/光低值 — 兼容 DPO7OE1/DPO7OE2 光探头

PCI Express、DDR4、USB 和 SAS/SATA 解决方案电子指南

所有高速串行*性和调试工具

加快 PCIe、SATA 或 SAS 设计的分析、验证和预*性测试

测试 SuperSpeed USB 3.1 Type-C 设计时快速查找问题的根本原因

减少 DisplayPort *性测试和 HDMI 物理层验证的时间

SDLA 与 DPOJET 提供计算机、通信和内存总线的全面模拟和测量

雷达和射频

MSO/DPO70000系列，雷达和射频

配有 SignalVu 矢量信号分析软件的 MSO/泰克Tektronix MSO73304DX示波器系列可为您提供所需的分析功能，让您满怀信心地克服具有挑战性的射频、无线和微波设计问题。 您可以使用泰克实时频谱分析仪上使用的工具分析达 33GHz 的信号。

触发、捕获、分析宽带频谱事件

轻松检验宽带雷达、高数据速率卫星链路、WLAN 802.11 或跳频无线电设计

同时测量频率、时间、相位、调制

型号 模拟带宽 采样率 记录长度 模拟通道 数字通道数

DPO71254C 12.5 GHz 50 GS/s - 100 GS/s 31.25M 点 - 250M 点 4

MSO71254C 12.5 GHz 50 GS/s - 100 GS/s 62.5M 点 - 250M 点 4 16

DPO71604C 16 GHz 50 GS/s - 100 GS/s 31.25M 点 - 250M 点 4

泰克Tektronix DPO72004C示波器 20 GHz 50 GS/s - 100 GS/s 31.25M 点 - 250M 点 4

MSO71604C 16 GHz 50 GS/s - 100 GS/s 62.5M 点 - 250M 点 4 16

MSO72004C 20 GHz 50 GS/s - 100 GS/s 62.5M 点 - 250M 点 4 16

DPO72304DX 23 GHz 50 GS/s - 100 GS/s 31.25M 点 - 1G 点 4

MSO72304DX 23 GHz 50 GS/s - 100 GS/s 62.5M 点 - 1G 点 4 16

DPO72504DX 25 GHz 50 GS/s - 100 GS/s 31.25M 点 - 1G 点 4

MSO72504DX 25 GHz 50 GS/s - 100 GS/s 62.5M 点 - 1G 点 4 16

DPO73304DX 33 GHz 50 GS/s - 100 GS/s 31.25M 点 - 1G 点 4

泰克Tektronix MSO73304DX示波器 33 GHz 50 GS/s - 100 GS/s 62.5M 点 - 1G 点 4 16

高带宽光探头

DPO7OE1 ，33 GHz，单模/多模，光探头，适用于 MSO/DPO70000 实时示波器。 波长范围：750nm - 1650nm

DPO7OE2 ，59 GHz，单模，光探头，适用于 MSO/DPO70000 实时示波器。 波长范围：1200nm - 1650nm

高压单端探头

P5100A高压探头：500 MHz，100X，2.5 kV，单端，BNC

P6015A高压探头；75MHZ，40KV，1000X 10 FT - 可追溯校准标准证明

高压差分探头

P5200A高压探头：50 MHz，50X/500X，1.3 kV，差分，BNC

P5202A差分探头；20X/200X，100 MHZ 差分电压探头

P5205A高压探头：100 MHz，50X/500X，1.3 kV，差分，BNC

P5210A高压探头：50 MHz，100X/1000X，5.6 kV，差分，BNC

P6251探头，差分 HV，带 TEKPROBE-BNC 接口，42V，1GHZ - 可追溯校准标准证明