产品介绍
英国真尚有_光栅尺 | 微米级光栅尺 | AE0X
高精度位移检测
AE0X微米级光栅尺设计用于测量和检查工程物体的位移、尺寸、跳动、表面轮廓和变形。
主要特点：
◇ 0.1 µm 分辨率
◇ 最高±2 µm 精度
◇ 测量范围从 3 到 55 mm
◇ 可应用范围广，对被测物本身无限制（低反射率、镜面、透明……都不影响）
◇ 绝对测量的创新技术
◇ 增量编码器信号的仿真
AE0X微米级光栅尺特点：
（1）、0.1 µm 分辨率（2）、最高±2 µm 精度（3）、测量范围从 3 到 55 mm（4）、可应用范围广，对被测物本身无限制（低反射率、镜面、透明……都不影响）（5）、绝对测量的创新技术（6）、增量编码器信号的仿真
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