CNSCAN 天策电子 S4表面平整度检测系统 分布式薄膜压力传感器
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S4表面平整度检测系统 分布式薄膜压力传感器技术参数
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规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
性 能 | ||
压力范围 | 1-60 kPa | |
环 境 | ||
工作温度 | -20 -60 C | |
物 理 | ||
长度 | 281 mm | |
宽度 | 250 mm | |
厚度 | 0.8mm | |
更多规格 | ||
输出类型 | 电阻 |
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S4表面平整度检测系统 分布式薄膜压力传感器资源附件
文件名称 | 大小 | 操作 |
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SFD | 1.53 MB | 下载 |
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