深圳佳捷伦 4156B半导体参数分析仪Agilent 分析仪

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产品介绍

4156B半导体参数分析仪Agilent


4156A 精密半导体参数分析仪

主要特点

高分辨率/准确度和宽范围。I:1 fA至1 A(20 fA偏移精度),V:1μV至200 V.

采用直流或脉冲模式的全自动IV扫描测量,S多可扩展至6个SMU

同步应力/测量功能,两个高压脉冲发生器单元(±40 V)

时域测量:60μS可变间隔,S多10,001个点

易于使用:旋钮扫描类似于曲线追踪器,自动分析功能

自动化:内置HP Instrument BASIC,触发I / O功能

Agilent HP 4156A是下一代精密半导体参数分析仪。您可以获得S佳的数字扫描参数分析仪,可靠性测试仪,功能强大的故障分析工具和自动化的输入检测站,所有这些都集成在一台仪器中。

这个新系列的设计旨在为评估亚微米几何设备提供精度和功能。使用一台灵活的仪器,您可以从材料评估和器件特性一直到S终的封装零件检测和现场故障分析,从而提高半导体质量。

Agilent HP 4156A提供四个内置源/监视器单元(SMU),两个电压源单元(VSU)和两个电压监视器单元(VMU)。Agilent HP 4156A将电流分辨率扩展至1 fA,精度达到20 fA。Agilent HP 4156A在每个SMU上使用全开尔文遥感。

您可以随时添加Agilent HP 41501A SMU和脉冲发生器扩展器,它配有0 V / 1.6 A接地单元。扩展器可接受两个100 mA / 100 V SMU或一个1 A / 200 V SMU,以及两个特殊同步的40 V / 200 mA /1μs脉冲发生器。

设置和测量

Agilent HP 4156A可以使用许多测量单元(包括HP 41501A中的单元)执行阶梯和脉冲扫描测量以及采样(时域)测量,而无需更改连接。此外,您还可以轻松执行压力测量循环测试,以进行热载流子注入和闪存EEPROM测试等可靠性评估。

通过设置页面并从前面板键,键盘或HP-IB(SCPI命令)填充空白来进行设置和测量。您还可以使用旋钮扫描功能即时测量和查找设置条件,这与曲线跟踪器操作类似。

显示和分析

测量和分析结果显示在彩色CRT上,您可以叠加来自四个图形存储器的存储图形进行比较。许多强大的图形分析工具可以轻松分析和提取许多参数,如hFE和Vth。找到参数提取条件后,可以使用自动分析功能自动获取参数。

输出和存储

设置,测量和分析数据可通过HP-IB或串行接口输出到彩色绘图仪和打印机。您还可以将数据保存为MS-DOS或LIF格式的3英寸磁盘。图形(HP-GL或PCL)输出文件允许您将图形传输到桌面出版软件。

重复和自动化测试

Agilent HP 4156A内置的Agilent HP Instrument BASIC控制器可以使用不带控制器的外部仪器构建自动测量系统。Agilent HP 4156A可通过多种触发I / O功能与外部仪器同步。

备注:

我们的优势:

品种齐全,货源充足,存库雄厚,服务快捷,维修能力强

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