产品介绍
Ultim-Max-TEM，我们的SDD探测器，用于在TEM中进行纳米尺度分析和元素映射。使用一个新的低剖面80平方毫米的传感器可以在任何条件下更接近样本，提供更多的x射线计数。结合无窗结构和极端电子设备，该探测器可为200kV TEM提供高性能EDS。0.2-0.6 srad的立体角可将低能量X射线定量分析的灵敏度提高8倍，>400000 cps时，在样品温度>1000°C的条件下，在原位实验中收集光谱。
Ultim® Max TEM 辐射探测器技术参数
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| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 更多技术信息 | ||
| 探测器形式 | Fixed Installation | |
| 更多规格 | ||
| 产品类别 | Radiation Detectors | |
| 检测到的电离辐射类型 | X-Ray | |
| 计算机接口 | Computer Interface |
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