Oxford Instruments Ultim® Extreme 辐射探测器

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Ultim极端硅漂移探测器是超高分辨率FEG-SEM应用的突破性解决方案,提供了超越传统的微纳米分析的解决方案。Ultim Extreme是一款100平方毫米的无窗Ultim版本,旨在最大限度地提高灵敏度和空间分辨率。它使用一个激进的几何优化成像和EDS性能在超高分辨率FEG表面活性剂,同时工作在低千伏和短工作距离。使用Ultim Extreme,EDS分辨率接近SEM。

Ultim® Extreme 辐射探测器技术参数

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探测器形式 Fixed Installation
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检测到的电离辐射类型 X-Ray
计算机接口 Computer Interface
产品类别 Radiation Detectors

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