产品介绍
Micron Instruments提供了一系列半导体背衬测量仪。，易于安装，安装在带有多功能焊盘的柔性绝缘电路上，使该设备易于安装。测量仪和金丝被涂上过多的涂层，以密封水分，并在应用过程中为测量仪提供额外的保护。，足够灵活，能够绕直径为0.5英寸的杆弯曲。，性能灵敏度是箔式测量仪的50到75倍。，称重传感器和箔桥上的线性和稳定性可用作线性校正器。0.125%FS的非线性可以校正到小于满量程的0.05%。长期稳定性不会受到影响。，建议使用原型来验证概念，并用于瞬态或高频测量。
Semiconductor Backed Strain Gage 应变片技术参数
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| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 特 性 | ||
| 标称电阻 | 120; 540; 15, 25, 30, 40, 230, 345 1050, 1125, 2000, 5000, 10000 | |
| 应变系数 | 175 | |
| 连 接 & 显 示 | ||
| 终端选择 | Solder Tabs | |
| 环 境 | ||
| 工作温度 | 278 F (137 C) | |
| 物 理 | ||
| 结构类型 | Semiconductor | |
| 更多规格 | ||
| 产品类别 | Strain Gauges |
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