北京中科国技信息系统有限公司 是是德科技（Keysight）的系统方案合作伙伴，是无线通信、射频和微波测试系统的解决方案提供商，产品包括EMC测试解决方案、物联网及RFID认证测试、研发测试解决方案、MIMO OTA测试解决方案以及其它定制化测试解决方案。
解决方案适用的标准包括国标、IEC标准、CISPR标准、ISO标准、3GPP标准、EPC标准、汽车行业标准等各个标准体系。
行业背景
物联网：2009年就被我国正式列为国家战略性新兴产业之一，是国家大力发展的行业，但通信质量如何保证？对相关器件和组网在研发、生产阶段就进行严格测试，是必需的流程；
移动通信：我国政府、企业、科研机构等各方高度重视前沿布局，力争在全球5G标准制定上掌握话语权。中国5G标准化研究提案在2016世界电信标准化全会（WTSA16）第6次全会上已经获得批准，我国5G技术研发已走在全球前列。为将研发优势转为市场优势，确保通信质量是最基本要求，对手机、通信终端、基站有源阵列天线在研发、生产阶段进行测试，也是必需的流程；但测试系统基本被美国公司、欧州公司垄断！
企业文化
树立员工工作的责任感
树立员工共同进退的团队意识
树立做事精益求精、寻求细节的价值观
耐住寂寞——树立量变到质变的方法论，耐心积累
鼓励创新、沟通、思考，鼓励员工发挥主观能动性，实现能力提升
树立创业精神
勇敢的、不言放弃的、耐住寂寞的、精益求精的中科精神
主要产品
无线通讯产品测试方案
北京中科国技信息系统有限公司具备MIMO OTA、SISO OTA性能测试系统，是MIMO OTA测试技术的探索者、引领者。公司参与了CTIA标准的全部验证工作，是中国通信标准化协会（CCSA）的全权会员；最早提供了“校准、验证、测试”三位一体的多探头测试方案；
天线及终端OTA性能测试方案
WrlessLab OTA测试系统
专为物联网产品性能测试所设计的OTA测试系统，除传统天线及有源OTA测试外，增加Desense，多通信共存，信道仿真模拟，多用户等场景应用测试。
WrlessPro OTA测试系统
众多企业往往受制于场地尺寸，或办公室在几年内就需搬迁，因而无法建立大型暗室，WrlessPro在占地极小的情况下实现标准型暗室的测试精度及测试角度间隔，一体运输，无需现场施工，助力企业研发升级。
WiFi应用仿真测试方案
Mini-TP WIFI性能测试系统
支持WiFi/LTE/5G/蓝牙等终端/AP吞吐量测试，支持室内场景信道模拟，多通信制式共存测试终端受干扰下性能降级（Desense）测试，通信覆盖范围测试，全兼容TR-398及运营商AP测试项目。
测试附件
Wrlesslab测试系统附件
Wrlesslab测试系统附件 ① Easytest Easytest 射频控制单元，可在传统测试系统上增加此仪表进行诸如 UWB/ Lora /Zigbee /Wimax/ 用户自定义私有协议等非标通信制式的的测试。
Mini-TP测试系统附件
① 单用户WiFi模拟器WEU-6 单用户模拟器支持802.11a/b/g/n/ac/ax等多种制式，可进行AP/Station的模拟，支持所有MAC层和物理层参数配置。内置了操作系统和iPerf流量测试工具，无需打流PC即可完成。
WrlessPro OTA测试系统附件
① 射频开关箱 频率范围：400MHz ~ 12GHz Hwa-Tech自研的自适应功放射频开关箱，可根据接收的功率调整功率放大等级，支持7级放大链路实时切换，最大可提供90dB的动态范围，保证测试信号。
RFID产品测试方案
中科国技提供从FPGA、芯片、标签、读写器产品问题定位测试，到高端认证实验室检测的全面的RFID测试解决方案。
RFID研发测试解决方案
标签测试系统Tagformance Pro
标签性能综合检测仪是一台用于超高频和高频标签性能测量和评估的检测设备。该仪器使用了新一代电子元器件，使设备更小巧精致，处理能力更强，测试速度更快。配有多种测试选件和附件，客户可按需求选择，后续升级也更加灵活、方便，节省成本。
标签芯片测试系统
中科国技标签芯片测试系统是一款集控制、测试与分析一体的测试解决方案，包含协议分析测试、覆盖性测试、芯片灵敏度测试三大功能。通常标签芯片研发测试项目众多、测试过程繁杂、结果定位难。而该款标签芯片测试系统能帮助研发人员进行自动化测试，大大缩短研发时间。 协议分析测试主要针对不同命令序列、不同命令参数下标签的响应情况；覆盖性测试则是自动生成大量不同测试组合，对标签进行全参数覆盖测试，快速定位主要问题所在；而芯片灵敏度测试则能自定义测试需求，检测宽频带内标签芯片灵敏度及反射功率变化。
测试系统RFID-Easytest
中科国技标签芯片测试系统是一款集控制、测试与分析一体的测试解决方案，包含协议分析测试、覆盖性测试、芯片灵敏度测试三大功能。通常标签芯片研发测试项目众多、测试过程繁杂、结果定位难。而该款标签芯片测试系统能帮助研发人员进行自动化测试，大大缩短研发时间。 协议分析测试主要针对不同命令序列、不同命令参数下标签的响应情况；覆盖性测试则是自动生成大量不同测试组合，对标签进行全参数覆盖测试，快速定位主要问题所在；而芯片灵敏度测试则能自定义测试需求，检测宽频带内标签芯片灵敏度及反射功率变化。
标签性能一致性测试系统Tagsurance
标签性能一致性测试系统拥有快速的UHF标签性能测试功能。该系统拥有可以在宽频带下快速测试标签灵敏度，并在大量标签中查找性能异常标签。主要适用于标签研发与生产企业以及需要快速检测多标签性能一致性的应用方。
标签弯曲性能测试系统
标签弯曲性能测试系统为实验室测试设备，主要测试分析标签在多次弯曲后的性能变化，检测标签芯片和天线之间的粘合性。 标签弯曲性能测试系统采用高质量的机械设计，确保了标签和测量天线间精准的对位，保证了测试结果的可靠性。
RFID认证检测解决方案
标签性能分级测试系统（GS1-TIPP）
Tagged-ltem Performance Protocol（tlpp）Tagged- ltem Grading是GS1 US为零售商和供应商提供的一套贴标物品性能测试评价方法。与以往电子标签的测试评价方法不同，TIPP针对贴在具体物品上的标签进行性能评价，并采用分级制度，合并相似的性能规格形成若干等级（Grade），以简化零售商和供应商对贴标物品性能要求的协商过程。该评价系统采用Arkansas Radio Compliance测试方法，以灵敏度、反向散射功率、方向性和频率等四个性能指标作为分级因数。
高精度的RFID射频协议一致性测试系统
中科国技RFID射频协议一致性认证测试系统采用高精度单仪表组合，配以不同频段的高性能RFID仿真器，实现高精度的RFID射频协议一致性多频段认证测试系统。该系统严格遵照国际标准、国家标准、行业标准的测试规范，保证测试方法与技术要求的高度统一，确保认证系统的权威性。
遵循标准的RFID性能认证测试系统
在UHF频段，业界主要遵照ISO/IEC 18046-3与EPC Tag Performance Parameters and Test Methods标准进行性能测试系统设计。前者侧重在应用过程中对标签关键测试点的电压测试；后者侧重在真实无线通讯环境中对标签的识读距离、角度特征、抗干扰能力的评价。 近年来，在不断完善国际标准测试方案的基础上，中科国技通过与RFID企业的深度合作，使Z2001A系列性能测试系统不仅达到了ISO/IEC 18046和EPC标准中的测试要求，而且实现了国内标准和频段的性能。
