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IBE 离子束刻蚀机传感器 MEMS 刻蚀应用
上海伯东日本原装进口离子束刻蚀机 IBE 可以很好的解决传感器 MEMS 的刻蚀难题, 射频角度可以任意调整, 蚀刻可以根据需要做垂直, 斜面等等加工形状, 刻蚀那些很难刻蚀的硬质或惰性材料.
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Hakuto 日本制造离子束刻蚀机 IBE
上海伯东日本原装进口离子束刻蚀机 IBE,提供成熟可靠的刻蚀解决方案,基于 50多年的离子束刻蚀经验,提供从小型研发到生产型的标准刻蚀机和定制刻蚀系统,刻蚀均匀性 ≤±5% (部分材料 3%), 适用于自旋电子学,磁传感器, 射频器件等.
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铌酸锂 LiNbO3 薄膜 IBE 离子束刻蚀
随着基于铌酸锂 LN 的光源,光调制,光探测等重要器件的实现,铌酸锂 LN 光子集成芯片有望像硅基集成电路一样,成为高速率, 高容量, 低能耗光学信息处理的重要平台, LiNbO3 薄膜刻蚀成特定的图形才能用于芯片,因 LiNbO3 惰性特性,使用 ICP 或 RIE 工艺无法完成刻蚀,上海伯东 IBE 离子束刻蚀机为铌酸锂 LiNbO3 薄膜刻蚀提供解决方案
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车载芯片高低温测试解决方案
上海伯东美国inTEST ThermoStream高低温冲击热流仪,为车载芯片提供稳定和高效的温度测试解决方案,保证车规产品的高安全性,高可靠性和高稳定性,inTEST 高度适配各类测试平台,协助企业生产研发符合 AEC-Q100 可靠性认证的车载芯片.
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socket 板高低温冲击测试
应用于信息安全,汽车电子和网络通信等行业的 socket 板,一般由多个芯片组合.socket 板在研发阶段,需要进行严格的环境温度测试,测试内容包含温度冲击测试和温度循环测试,已验证 socket 板的可靠性.上海伯东美国 inTEST 热流仪提供 socket 板高低温冲击测试解决方案.
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美国 inTEST 热流仪推出高低温测试的桌面机型 BT28
上海伯东美国inTEST 热流仪针对光纤收发器温度测试范围一般 0-70 度的特点,推出占地面积更小, 重量更轻的桌面型热流仪 BT28,一款高性能的冷热冲击系统.
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inTEST 热流仪显示行业光学检测高低温试验方案
上海伯东美国 inTEST ThermoStream 高低温冲击热流仪,兼容各品牌光学检测设备,提供显示行业 LCD, LCM, TV, monitor, OLED 器件, OLED 模组, Micro LED, Mini LED, 车载显示, LED Light Bar, 背光模组等器件在高低温环境下的光学性能测试.
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美国 inTEST ATS-535 热流仪半导体芯片高低温测试应用
上海伯东美国 inTEST ATS-535 集成空压机的高低温冲击热流仪, 高低温测试范围 -60 至 + 225°C, 为半导体功率器件 ( MOSFET, IGBT, SIC, GaN,车规级芯片…), 功率模块, 功率集成电路, 智能传感器等芯片研发提供高低温测试解决方案.